隨著技術(shù)的發(fā)展，PCB板的尺寸也越來越小。在小型電路板上擠壓這么多的電子零件已經(jīng)很困難。因此，測量電路板所占空間的問題通常在設(shè)計端。在制造端之間拖拉。測試點的外觀通常是圓形的，因為探針也是圓形的，所以制作起來更好，并且更容易使相鄰的探針更緊密，從而可以增加針床的針密度。

使用針床進行電路測試將對某些機制產(chǎn)生固有的限制。例如，探針的最小直徑具有一定的極限，并且直徑太小的針很容易折斷。

針之間的距離也有一定的限制，因為每個針都必須從孔中出來，并且必須在每個針的背面焊接扁平電纜。如果相鄰的孔太小，則針與針之間會接觸。短路問題，扁平電纜的干擾也是一個主要問題。

無法在某些較高的部分附近種植針。如果探頭太靠近上部，則可能會因與上部碰撞而造成損壞。另外，由于零件很高，通常必須在測試床座上開孔以避免，這也間接導致無法插入針頭。越來越難以容納PCB板上所有零件的測試。

由于PCB板越來越小，因此經(jīng)常討論測試次數(shù)。已經(jīng)有一些減少測試數(shù)量的方法，例如Net測試，Test Jet，Bountry Scan和JTAG…等等。還有其他一些測試方法想要替代原始的針式測試，例如AOI，X-Ray ，但目前每次測試似乎都無法100％取代ICT。